УДК:539
Резонансна рентгенівська дифрактометрія полизу к - країв поглинання компонент при дослідженнях багатошарових структур
Максименко Зоя Василівна
Всі категорії
Вся тематика
Фізико-математичні науки
Фізика
Фізична природа матерії
10.10.2019 -- Київ :
+539
М171
Максименко Зоя Василівна
Резонансна
рентгенівська дифрактометрія полизу к - країв поглинання
компонент при дослідженнях багатошарових структур. - Київ :
, 2019 . - 19 C
Дата внесення :
10.10.2019
Переглядів: 0
Популярність: 0%
